Республика Башкортостан г.Уфа, ул. Достоевского, 105
График работы: 09:00 -18:00

Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT

Производитель Fluke Networks
Количество:

Цена:

Цена по запросу
Товар добавлен в корзину
  • картинка Сравнить
  • картинка Запомнить

Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT представляет собой многофункциональный диагностический прибор на базе модульной платформы Versiv, который обеспечивает полный цикл работ по сертификации оптических линий СКС (структурных кабельных систем) на основе одно- и многомодовых трактов в соответствии с действующими отраслевыми стандартами TIA и ISO. Кроме модулей QUAD OLTS, предназначенных для измерения оптических потерь, в состав комплекта включен модуль рефлектометра QUAD OTDR и набор для обследования, что позволяет сертифицировать оптоволоконные системы согласно ISO14763-3 по обоим уровням – базовому и расширенному.

Особенности

  • Соответствие Encircled Flux – Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT оборудован источником оптического сигнала с двойной длиной волны на основе лазерных диодов Фабри-Перо, обеспечивающих правильное заполнение сердцевины волокна излучением, и комплектуются тестовыми эталонными шнурами с точными артефактами для предварительной калибровки – для получения надежных результатов при измерении затухания и потерь.
  • Технология Smartloop OTDR повышает производительность работ, обеспечивая одновременное испытание 2 волокон за один цикл с реализацией двунаправленного тестирования без необходимости перемещения модуля рефлектометра на противоположный конец линии.
  • Функция Visual Fault Locator упрощает выявление повреждений линии и проблем с коннекторами, позволяя обнаруживать их визуально на удалении до 4 км в одномодовом режиме и до 3 км – в многомодовом.

Преимущества

Функциональная насыщенность. Комплект кабельного анализатора включает в себя не только измерительные модули, но и USB-микроскоп для визуального обследования торцевых поверхностей оптических разъемов. Он позволяет выявлять загрязнения и повреждения, ухудшающие прохождение сигнала. За счет использования в кабельном анализаторе Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT нескольких сменных модулей с общим базовым блоком устройства семейства Fluke Networks на платформе Versiv обладают меньшей стоимостью, по сравнению с набором из отдельных измерителей с такой же функциональностью. При этом обеспечивается единообразное представление данных – для обработки и составления отчетов в среде ПО LinkWare PC.

Простота использования. Полная автоматизация процесса испытаний с минимумом предварительных ручных операций, для правильного выполнения которых на экране высвечиваются наглядные подсказки, позволяет задействовать для полевых работ низкоквалифицированный персонал. Благодаря пользовательскому интерфейсу Taptive работать с прибором не сложнее, чем с обычным смартфоном. За счет наличия Wi-Fi адаптера настраивать измеритель можно удаленно с помощью сервиса LinkWare Live.

Купить кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT, а также получить консультацию специалистов об особенностях и преимуществах данного изделия вы можете в нашем магазине, связавшись с нами по телефону или непосредственно через сайт – с помощью формы обратной связи или воспользовавшись чатом с онлайн-консультантом.

Fluke Networks OptiFiber PRO
Многомодовый модуль Одномодовый модуль Модуль QUAD
Длины волн 850 нм ± 10 нм
1300 нм +35/-15 нм
1310 нм ± 25 нм
1550 нм ± 30 нм
850 нм ± нм
1300 нм +35/-15 нм
1310 нм ±25 нм
1550 нм ±30 нм
Совместимые типы оптоволокна 50/125 мкм
62,5/125 мкм
Одномодовый 50/125 мкм
62,5/125 мкм
Одномодовый
Мертвая зона событий 1 850 нм: 0,5 м стандарт
1300 нм: 0,7 м стандарт
1310 нм: 0,6 м стандарт
1550 нм: 0,6 м стандарт
850 нм: 0,5 м стандарт
1300 нм: 0,7 м стандарт
1310 нм: 0,6 м стандарт
1550 нм: 0,6 м стандарт
Мертвая зона затухания 2 850 нм: 2,5 м стандарт
1300 нм: 4,5 м стандарт
1310 нм: 3,6 м стандарт
1550 нм: 3,7 м стандарт
850 нм: 2,5 м стандарт
1300 нм: 4,5 м стандарт
1310 нм: 3,6 м стандарт
1550 нм: 3,7 м стандарт
Динамический диапазон 3, 5, 6 850 нм: 28 дБ, стандартно
1300 нм: 30 дБ,
стандартно
1310 нм: 32 дБ, стандартно
1550 нм: 30 дБ, стандартно
850 нм: 28 дБ, стандартно
1300 нм: 30 дБ, стандартно
1310 нм: 32 дБ, стандартно
1550 нм: 30 дБ, стандартно
Установка максимальной длины 40 км 130 км MM: 40 км
SM: 130 км
Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 850 нм: 9 км
1300 нм: 35 км
1310 нм: 80 км
1550 нм: 130 км
850 нм: 9 км
1300 нм: 35 км
1310 нм: 80 км
1550 нм: 130 км
Диапазон отражающей способности 4, 5 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно)
1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно)
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно)
1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно)
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
Разрешающая способность пробы 3 см – 400 см 3 см – 400 см 3 см – 400 см
Продолжительность импульса (номинальная) 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс
1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс
1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс
Время тестирования (на длину волны)Автоматическая настройка:
5 с (стандартно)
Автоматическая настройка:
10 с (стандартно)
Автоматическая настройка:
MM – 5 с (стандартно)
SM – 10 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
2 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
5 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
MM – 2 с (стандартно)
SM – 5 с (стандартно)
Настройка наивысшей точности:
2 – 180 с
Настройка наивысшей точности:
5 – 180 с
Настройка наивысшей точности:
MM – 2 – 180 с M
SM – 5 – 180 с
Настройка FaultMap:
2 с (стандартно), 180 с (макс.)
Настройка FaultMap:
10 с (стандартно), 180 с (макс.)
Настройка FaultMap:
MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.)
SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
20 с (стандартно), 40 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.)
SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.)
Ручная настройка:
3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с
Ручная настройка:
3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с
Ручная настройка:
-3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM — 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с

похожие товары