Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-S INT
обмен старого
бесплатное
бесплатноКабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-S INT предназначен для выполнения рефлектометрической диагностики одномодовых оптоволоконных линий связи с фиксацией событий и автоматическим анализом получаемых рефлектограмм на предмет соответствия заданным допускам. Устройство обладает высокой точностью и производительностью, минимальными мертвыми зонами по событиям и затуханию, оснащается квалифицированными источниками излучения, которые соответствуют требованиям Encircled Flux, благодаря чему может применяться в ходе сертификационных испытаний в соответствии с ISO14763-3 Tier 2.
Особенности
- Технология SmartLoop, реализующая одновременное тестирование 2 линий в двунаправленном режиме без перемещения базового модуля существенно повышает производительность Fluke Networks OFP2-100-S INT.
- Режим DataCenter OTDR рассчитан для проведения сертификационных испытаний в ЦОД (центр обработки данных), позволяя обойтись без предварительных настроек и сразу приступать к тестированию.
- Экспертный режим позволяет вручную выборочно корректировать стандартные настройки, в зависимости от особенностей проверяемого канала, например, для реализации специфических испытательных алгоритмов, а функция выбора участка канала способствует улучшению детализации конкретного сегмента.
- Визуальный локатор VFL обеспечивает обнаружение повреждений линии и загрязнений разъемов на удалении до 4 км от точки подключения.
- Встроенный в кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-S INT модуль Wi-Fi позволяет задействовать весь функционал облачного сервиса LinkWare Live непосредственно на месте выполнения работ, передавая данные в беспроводном режиме.
Преимущества
За счет интеллектуального пользовательского интерфейса с предустановленными настройками для разных режимов, автоматизации процесса измерений и анализа получаемых данных, с выдачей результата в виде "годен - не годен" обеспечивается возможность использования кабельного анализатора персоналом с любым уровнем подготовки. Режим EventMap обладает высокой наглядностью представления данных. Измеритель самостоятельно распознает типовые события – разъемы, разветвители, изгибы и пр. Результаты исследования отображаются на графическом дисплее в виде упрощенной схемы с текстовой информацией.
Купить кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-S INT, а также получить консультацию специалистов об особенностях и преимуществах данного изделия вы можете в нашем магазине, связавшись с нами по телефону или непосредственно через сайт – с помощью формы обратной связи или воспользовавшись чатом с онлайн-консультантом.
| Fluke Networks OptiFiber PRO | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Многомодовый модуль | Одномодовый модуль | Модуль QUAD | ||||
| Длины волн | 850 нм ± 10 нм 1300 нм +35/-15 нм | 1310 нм ± 25 нм 1550 нм ± 30 нм | 850 нм ± нм 1300 нм +35/-15 нм 1310 нм ±25 нм 1550 нм ±30 нм | |||
| Совместимые типы оптоволокна | 50/125 мкм 62,5/125 мкм | Одномодовый | 50/125 мкм 62,5/125 мкм Одномодовый | |||
| Мертвая зона событий 1 | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт | 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | |||
| Мертвая зона затухания 2 | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт | 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | |||
| Динамический диапазон 3, 5, 6 | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно | 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | |||
| Установка максимальной длины | 40 км | 130 км | MM: 40 км SM: 130 км | |||
| Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км | 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | |||
| Диапазон отражающей способности 4, 5 | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) | 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | |||
| Разрешающая способность пробы | 3 см – 400 см | 3 см – 400 см | 3 см – 400 см | |||
| Продолжительность импульса (номинальная) | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс | 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | |||
| Время тестирования (на длину волны) | Автоматическая настройка: 5 с (стандартно) | Автоматическая настройка: 10 с (стандартно) | Автоматическая настройка: MM – 5 с (стандартно) SM – 10 с (стандартно) | |||
| Настройка быстрого тестирования: 2 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: 5 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: MM – 2 с (стандартно) SM – 5 с (стандартно) | ||||
| Настройка наивысшей точности: 2 – 180 с | Настройка наивысшей точности: 5 – 180 с | Настройка наивысшей точности: MM – 2 – 180 с M SM – 5 – 180 с | ||||
| Настройка FaultMap: 2 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: 10 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.) SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.) | ||||
| Настройка OTDR для центра обработки данных: 1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: 20 с (стандартно), 40 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.) SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.) | ||||
| Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: -3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM — 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | ||||
похожие товары
Запомнить
Сравнить
