Республика Башкортостан г.Уфа, ул. Достоевского, 99
График работы: 09:00 -18:00

Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-MI INT

Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-MI INT используется в ходе сертификационных испытаний многомодового оптоволокна, обеспечивая выполнение рефлектометрических измерений в соответствии с действующими стандартами, с проведением тестов нескольких типов. Прибор выполнен на основе модульной платформы Versiv2, оборудуется с внутренним модулем Wi-Fi и комплектуется USB-микроскопом и набором дополнительных аксессуаров для очистки и обслуживания оптических коннекторов.

Функциональные особенности

  • Тест DataCenter OTDR предварительно настроен для проведения испытаний кабельной инфраструктуры ЦОД, с выполнением измерений с длиной волны 850 нм и компенсацией запуска, обеспечивая возможность отслеживания коротких линий и большого количества соединений.
  • Режим "Авто рефлектометрия" максимально упрощает использование Fluke Networks OFP2-100-MI INT, обеспечивая выполнение испытаний с автоматической настройкой параметров измерений – для наилучшего обзора событий в проверяемом кабеле.
  • Функция FaultMap, оптимизированная для отслеживания событий с низким отражением, служит для выявления неисправных соединений, которые являются причиной ухудшения качества связи.
  • Технология SmartLoop повышает производительность работ, позволяя за один испытательный цикл получать рефлектограммы раздельно для каждой проверяемой линии, которые замыкаются на противоположном конце с помощью шнуров запуска для соответствующего типа оптоволокна.
  • Двунаправленное тестирование снижает износ оптического порта Fluke Networks OFP2-100-MI INT и обеспечивает повышение точности результатов за счет автоматического усреднения получаемых показателей.
  • USB-микроскоп FiberInspector предназначен для сертификации поверхностей оптических коннекторов по стандарту IEC 61300-3-35.

Преимущества

Прибор специально приспособлен для применения на выездных работах – от изделий аналогичного назначения других производителей он выгодно отличается меньшим весом и компактным исполнением. Для сертификационных испытаний кабельный анализатор используется в режиме допускового контроля, за счет чего достигается высокая производительность работ. Прибор автоматически сравнивает полученные данные с пороговыми показателями, заданными при настройке устройства, и выдает однозначный результат в виде "годен" или "негоден". Для решения экспертных задач предусмотрена возможность тонкой "ручной" настройки прибора.

Купить кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-MI INT, а также получить консультацию специалистов об особенностях и преимуществах данного изделия вы можете в нашем магазине, связавшись с нами по телефону или непосредственно через сайт – с помощью формы обратной связи или воспользовавшись чатом с онлайн-консультантом.

Fluke Networks OptiFiber PRO
Многомодовый модуль Одномодовый модуль Модуль QUAD
Длины волн 850 нм ± 10 нм
1300 нм +35/-15 нм
1310 нм ± 25 нм
1550 нм ± 30 нм
850 нм ± нм
1300 нм +35/-15 нм
1310 нм ±25 нм
1550 нм ±30 нм
Совместимые типы оптоволокна 50/125 мкм
62,5/125 мкм
Одномодовый 50/125 мкм
62,5/125 мкм
Одномодовый
Мертвая зона событий 1 850 нм: 0,5 м стандарт
1300 нм: 0,7 м стандарт
1310 нм: 0,6 м стандарт
1550 нм: 0,6 м стандарт
850 нм: 0,5 м стандарт
1300 нм: 0,7 м стандарт
1310 нм: 0,6 м стандарт
1550 нм: 0,6 м стандарт
Мертвая зона затухания 2 850 нм: 2,5 м стандарт
1300 нм: 4,5 м стандарт
1310 нм: 3,6 м стандарт
1550 нм: 3,7 м стандарт
850 нм: 2,5 м стандарт
1300 нм: 4,5 м стандарт
1310 нм: 3,6 м стандарт
1550 нм: 3,7 м стандарт
Динамический диапазон 3, 5, 6 850 нм: 28 дБ, стандартно
1300 нм: 30 дБ,
стандартно
1310 нм: 32 дБ, стандартно
1550 нм: 30 дБ, стандартно
850 нм: 28 дБ, стандартно
1300 нм: 30 дБ, стандартно
1310 нм: 32 дБ, стандартно
1550 нм: 30 дБ, стандартно
Установка максимальной длины 40 км 130 км MM: 40 км
SM: 130 км
Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 850 нм: 9 км
1300 нм: 35 км
1310 нм: 80 км
1550 нм: 130 км
850 нм: 9 км
1300 нм: 35 км
1310 нм: 80 км
1550 нм: 130 км
Диапазон отражающей способности 4, 5 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно)
1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно)
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно)
1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно)
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
Разрешающая способность пробы 3 см – 400 см 3 см – 400 см 3 см – 400 см
Продолжительность импульса (номинальная) 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс
1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс
1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс
Время тестирования (на длину волны)Автоматическая настройка:
5 с (стандартно)
Автоматическая настройка:
10 с (стандартно)
Автоматическая настройка:
MM – 5 с (стандартно)
SM – 10 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
2 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
5 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
MM – 2 с (стандартно)
SM – 5 с (стандартно)
Настройка наивысшей точности:
2 – 180 с
Настройка наивысшей точности:
5 – 180 с
Настройка наивысшей точности:
MM – 2 – 180 с M
SM – 5 – 180 с
Настройка FaultMap:
2 с (стандартно), 180 с (макс.)
Настройка FaultMap:
10 с (стандартно), 180 с (макс.)
Настройка FaultMap:
MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.)
SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
20 с (стандартно), 40 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.)
SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.)
Ручная настройка:
3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с
Ручная настройка:
3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с
Ручная настройка:
-3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM — 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с

похожие товары

Перейти на диалог в WhatsApp