Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-M INT - мобильный рефлектометр, предназначенный для выявления неоднородностей в многомодовых оптоволоконных линиях, идентификации событий и измерения эффектов отражения и потерь. Он позволяет повысить производительность работ в ходе сертификации кабельной инфраструктуры сетей и систем связи за счет автоматизации измерений и анализа получаемых данных. Прибор построен на модульной платформе Versiv 2 и может быть гибко перепрофилирован путем простой замены модуля на базовом блоке и доукомплектования дополнительными принадлежностями при необходимости выполнения других работ, например, для контроля оптических потерь либо сертификации медных линий при наличии в проверяемой системе Ethernet-сегмента, и т.п.
Благодаря встроенным аналитическим функциям использовать Fluke Networks OFP2-100-M INT могут не только высококвалифицированные инженерные работники, но и персонал, не имеющий достаточного опыта в рефлектометрии. Кабельный анализатор самостоятельно распознает основные типы событий: разветвители, разъемы, изгибы и сплайсы, и, помимо рефлектограммы, может отображать результаты тестирования в виде таблицы и наглядной карты EventMap.
Для повышения производительности предусмотрена возможность выполнения тестирования двух линий связи за один цикл в режиме Smar tLoop, с фиксацией отдельных результатов для каждого оптоволокна. Для этого на противоположном конце линий соединяют с помощью шнура запуска. Функция компенсации нейтрализует влияние шнура и разъемов на получаемые результаты, а двунаправленное усреднение обеспечивает более высокую точность при оценке потерь.
Купить кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-100-M INT, а также получить консультацию специалистов об особенностях и преимуществах данного изделия вы можете в нашем магазине, связавшись с нами по телефону или непосредственно через сайт – с помощью формы обратной связи или воспользовавшись чатом с онлайн-консультантом.
Fluke Networks OptiFiber PRO | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|
Многомодовый модуль | Одномодовый модуль | Модуль QUAD | ||||
Длины волн | 850 нм ± 10 нм 1300 нм +35/-15 нм | 1310 нм ± 25 нм 1550 нм ± 30 нм | 850 нм ± нм 1300 нм +35/-15 нм 1310 нм ±25 нм 1550 нм ±30 нм | |||
Совместимые типы оптоволокна | 50/125 мкм 62,5/125 мкм | Одномодовый | 50/125 мкм 62,5/125 мкм Одномодовый | |||
Мертвая зона событий 1 | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт | 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | |||
Мертвая зона затухания 2 | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт | 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | |||
Динамический диапазон 3, 5, 6 | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно | 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | |||
Установка максимальной длины | 40 км | 130 км | MM: 40 км SM: 130 км | |||
Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км | 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | |||
Диапазон отражающей способности 4, 5 | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) | 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | |||
Разрешающая способность пробы | 3 см – 400 см | 3 см – 400 см | 3 см – 400 см | |||
Продолжительность импульса (номинальная) | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс | 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | |||
Время тестирования (на длину волны) | Автоматическая настройка: 5 с (стандартно) | Автоматическая настройка: 10 с (стандартно) | Автоматическая настройка: MM – 5 с (стандартно) SM – 10 с (стандартно) | |||
Настройка быстрого тестирования: 2 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: 5 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: MM – 2 с (стандартно) SM – 5 с (стандартно) | ||||
Настройка наивысшей точности: 2 – 180 с | Настройка наивысшей точности: 5 – 180 с | Настройка наивысшей точности: MM – 2 – 180 с M SM – 5 – 180 с | ||||
Настройка FaultMap: 2 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: 10 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.) SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.) | ||||
Настройка OTDR для центра обработки данных: 1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: 20 с (стандартно), 40 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.) SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.) | ||||
Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: -3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM — 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с |